冠亞制冷TES系列熱流儀-準確控溫的高低溫循環測試系統，能夠準確控制熱、冷空氣，應用在測試元器件、混合電路、模塊、PCB和裝配。

高低溫循環測試系統采用單壓縮機技術，可適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB電路板IC、光通訊（如收發器transceiver 高低溫測試、SFP光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行IC特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

　　高低溫循環測試系統產品應用：

1、測試閃存Flash、UFS、eMMC 、PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、傳感器、小型模塊組件；

2、特性分析；

3、對設計的驗證；

4、失效分析；

5、溫度沖擊測試 ；

6、高低溫溫變測試；

7、對收發器 Transceiver 高低溫測試、SFP光模塊高低溫測試；

8、其它電子行業、航空航天新材料、實驗室研究。

高低溫循環測試系統是一款小型溫度測試系統，對所有類型的組件進行溫度測試，例如傳感器，光纖收發器和組件，微波混合器，MCM，PCB或其他類型的電子設備/非電子零件。

高低溫循環測試系統用于溫度測試，快速熱循環，和組分，混合，模塊，電路板和其它電子和非電子組件設備溫度表征在準確的溫度從-25℃~+200℃。

高低溫循環測試系統可以放置在工程實驗室中工作站測試臺的上方或下方，也可以在生產測試臺上對齊，占地面積小，用于您的溫度試驗和熱調節的要求。